普泰克-車載芯片高低溫溫控測試設(shè)備的介紹

以下是一些常見的車載芯片高低溫溫控測試設(shè)備：

inTEST ThermoStream 系列熱流儀

型號：如 ATS-545-M-k、ATS-710E、ATS-750E 等。

溫度范圍：不同型號有所差異，一般可提供 - 75℃至 + 225℃甚至更寬的溫度沖擊范圍。例如，ATS-750E-M 制冷能力更強(qiáng)，低溫可達(dá) - 85℃，高溫達(dá)到 300℃。

變溫速率：每秒可快速升溫 / 降溫 15℃-18℃，能在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)大幅度的溫度變化，如 ATS-710E 可在 10 秒或更短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn) - 55℃至 + 125℃以及 + 125℃至 - 55℃的溫度轉(zhuǎn)變。

溫度精度：精度可達(dá) ±1℃，部分型號溫度顯示分辨率為 ±0.1℃。

優(yōu)勢：可以單獨(dú)對 PCB 上的單個(gè) IC 進(jìn)行溫度沖擊測試，而不影響周圍元件；能實(shí)時(shí)監(jiān)測待測元件真實(shí)溫度，并隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度；高度適配各類測試平臺(tái)。

車載芯片沖擊測試用高低溫一體機(jī)

溫度范圍：可實(shí)現(xiàn) - 60℃-250℃寬溫域精準(zhǔn)控制。

溫度精度：精度高達(dá) ±0.1℃。

功能：集成超寬溫域控制、動(dòng)態(tài)響應(yīng)調(diào)節(jié)與多應(yīng)力協(xié)同功能，支持模擬高溫運(yùn)行、低溫啟動(dòng)、快速溫變及機(jī)械沖擊等惡劣工況，兼容 AEC - Q100、ISO 16750 - 3 等國際標(biāo)準(zhǔn)，可同步控制溫度、振動(dòng)、濕度及氣壓，廣泛應(yīng)用于 ECU、IGBT 模塊、電池管理系統(tǒng)（BMS）等車載芯片的全流程可靠性驗(yàn)證。

溫變 Chiller（溫度控制冷水機(jī)）

溫度范圍：一般可模擬 - 65℃至 + 150℃的嚴(yán)苛溫變場景，能滿足車規(guī)芯片標(biāo)準(zhǔn)（如 AEC - Q100 Grade 0：-40℃至 + 150℃）及超限測試需求。

溫度精度：通過配備 PID + 模糊控制算法，結(jié)合鉑電阻或紅外傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測溫度，可實(shí)現(xiàn) ±0.1℃精度控制。

設(shè)備特性：支持 5℃-20℃/min 的線性升溫 / 降溫，具有動(dòng)態(tài)溫變速率；通過傳感器實(shí)時(shí)反饋溫度數(shù)據(jù)，確保測試艙內(nèi)溫度均勻性在 ±0.5℃以內(nèi)；可匹配芯片封裝尺寸，確保導(dǎo)熱介質(zhì)流量均勻覆蓋被測器件；支持多個(gè) DUT（被測設(shè)備）并行測試，提升測試效率。